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Inforce Knowledge Base: Spektrum.ifc 
Verfahren
 
  
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    92/ 1   Mikrolaser   Jack L. Jewell, James P. Harbison, Axel Scherer
    92/ 5   Mikrosystemtechnik   Walter Kroy, Günter Fuhr
    91/ 4   Röntgenmikroskopie   Malcolm R. Howells, Janos Kirz, David Dayre
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